論文等

原著論文

*Takashi Nakajima, Matthieu R. Delbecq, Tomohiro Otsuka, Peter Stano, Shinichi Amaha, Jun Yoneda, Akito Noiri, Kento Kawasaki, Kenta Takeda, Giles Allison, Arne Ludwig, Andreas D. Wieck, Daniel Loss, and *Seigo Tarucha,
Robust single-shot spin measurement with 99.5% fidelity in a quantum dot array,
Physical Review Letters 119, 017701-1-6 (2017).

概要: 私たちは半導体量子ドット中の二電子のスピン状態を、高い精度で、電場や磁場のゆらぎに頑強な形で読み出す方法を開発した。この方法では緩和時間の長い電荷中間状態を利用して、電荷信号強度を増強する。そして電荷測定エラーとスピン電荷変換エラーをそれぞれ評価した。この新しい読み出し手法はガリウムヒ素やシリコンなどを用いた量子ドット列に対して広く適用可能である。
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